De nieuwe Dualis: besteedt aandacht aan ieder detail op oppervlakken en contouren
- 2D-controle combineren met oppervlakken en contouren voor maximale borging van de kwaliteit
- Gebruiksvriendelijke software vereenvoudigt de inrichting van de inspectietaken
- Krachtige algoritmen zijn ook veeleisende eisen de baas
- Betrouwbare werking, zelfs onder wisselende lichtomstandigheden
- Bewaking van foutieve uitlijning zorgt voor betrouwbare kwaliteitscontrole
De detectie professional die bestand is tegen extern licht
Ontbrekende bevestigingsclips, niet-gefreesde schroefdraden, te veel lijm of een defect onderdeel: De nieuwe Dualis herkent dit allemaal moeiteloos – evenals elke andere afwijking van het object van de specificaties. Oppervlakken, contouren, ontbrekende delen of objectrotatie kunnen afzonderlijk en gecombineerd worden bekeken en geëvalueerd. Dankzij het geïntegreerde daglichtfilter is de Dualis bijzonder goed bestand tegen licht van buitenaf. De variant met geïntegreerd polarisatiefilter is bij uitstek geschikt voor applicaties met bijzonder sterk reflecterende objecten. De nieuwe Dualis is in te stellen met de gebruiksvriendelijke software ifm Vision Assistant. Zelfs complexe taken zijn snel gedefinieerd. Realtime-maintenance-opties zorgen voor de betrouwbare borging van de kwaliteit. Veranderingen in de continu gecontroleerde beeldscherpte en de beeldhelderheid duiden bijvoorbeeld op een onbedoelde foutieve afstelling. In dat geval kan de sensor automatisch een waarschuwing versturen.
Snel wisselen dankzij een geheugenstick
De Dualis is voorzien van een ifm geheugenstick waarop de parameters worden opgeslagen. Als het apparaat aan vervanging toe is kan de stick worden gebruikt voor de eenvoudige overdracht van alle instellingen en parameters die nodig zijn voor het gebruik in de nieuw geplaatste Dualis. Dat reduceert de werkdruk aanzienlijk.
