Den nye Dualis: registrerer alle detaljer på eksterne overflader og konturer
- 2D inspektion af overflader og konturer giver maksimal sikkerhed for kvaliteten
- Brugervenlig software letter opsætning i forbindelse med inspektionsopgaver
- Kraftfuld algoritme lever op til selv store krav
- Pålidelig funktion under skiftende lysforhold
- Overvågning for fejlindstillinger sikrer en pålidelig kvalitetskontrol
Søg-og-find-eksperten, der er modstandsdygtig over for eksternt lys
Manglende fastgørelsesklemmer, forkert fræsede gevind, for meget klæbemiddel eller forkert form på komponenterne: Den nye Dualis registrerer let alt dette – og også alle andre afvigelser fra de specificerede mål. Områder i overfladen, konturer, udeladelser eller rotation af objektet bliver kontrolleret og evalueret individuelt eller i kombination. Det integrerede dagslysfilter gør Dualis ekstremt modstandsdygtig over for eksternt lys. Versionen med integreret polariseret filter er ideel til applikationer med skinnende objekter. Opsætning af den nye Dualis foregår med den brugervenlige ifm Vision Assistant-software. Selv komplekse opgaver defineres hurtigt. Mulighed for vedligeholdelse i realtid sikrer en pålidelig kvalitetssikring. F.eks. tyder ændringer i billedernes skarphed og hvor lyse billederne fremstår på en utilsigtet fejljustering. Hvis det er tilfældet, kan sensoren automatisk udsende en advarsel.
Hurtig udskiftning med memory stick
Dualis er udstyret med en ifm memory stick, der indeholder kamera parametrene. Hvis en enhed skal udskiftes, overfører memory sticken nemt alle de nødvendige driftsindstillinger og parametre til den nye Dualis. Det gør arbejdet betydeligt lettere.
